一些實驗室分析天平，通常是分析或半微型模型，具有統(tǒng)計功能。但是，這是什么意思？您如何使用這些數(shù)據(jù)？值得購買帶有該功能的電子天平嗎？在這篇文章中，我們將解釋與實驗室天平有關(guān)的統(tǒng)計數(shù)據(jù)。

什么是統(tǒng)計？

就我們的目的而言，統(tǒng)計量被定義為來自數(shù)字數(shù)據(jù)集的數(shù)據(jù)。

一些電子天平，例如分析和半微量量程，使用戶能夠以各種模式收集統(tǒng)計數(shù)據(jù)。用戶可以在稱量，計數(shù)或百分比稱量模式下收集統(tǒng)計信息。

實驗室天平收集的統(tǒng)計數(shù)據(jù)：

容差：用戶可以設(shè)置容差，以決定應(yīng)在統(tǒng)計信息中保留哪些數(shù)據(jù)集。例如，如果您知道自己的測量值應(yīng)在0.056到0.732克之間，則可以排除低于或超過這些限制的任何值。這樣一來，您就可以擺脫可能導(dǎo)致數(shù)據(jù)混亂的離群值（例如，標準差的系數(shù)），也可以選擇要分析的特定集。

最小值和最大值：測量值記錄的最大值和最小值。

差異：最大值和最小值之間的差異。

總和：最大值和最小值的總和。

平均值：記錄的所有測量值的平均值，計算方法是將所有測量值的總和除以測量值的數(shù)量。

標準偏差：指示一組測量值的偏差或變化的度量。它表明您的測量結(jié)果彼此之間的差異。

標準偏差系數(shù)：指示數(shù)據(jù)相對變化的百分比。它是標準偏差與平均值的比率。余額之所以包括在內(nèi)，是因為它可以允許用戶比較不同數(shù)據(jù)集的結(jié)果，即使對它們的評估方式不同。

對于單次測量，標準偏差很有用，但是系數(shù)可以更好地衡量多個數(shù)據(jù)集的變化，并且可以考慮上下文。

天平還記錄您稱量了多少個樣品，參考（如果有）和統(tǒng)計信息收集方式的參數(shù)。

還允許用戶使用自定義統(tǒng)計方法存儲，調(diào)用和創(chuàng)建數(shù)據(jù)庫。用戶可以存儲描述，標稱重量和公差。天平將自動檢查該方法，以確保用戶保存該方法時正確無誤。您可以根據(jù)需要通過RS-232或USB接口將數(shù)據(jù)輸出到打印機，直接輸出到計算機或閃存驅(qū)動器。

重點是什么？

您可以收集統(tǒng)計信息。大事了 但是如何使用它們？這種數(shù)據(jù)有許多不同的用途。可以保存統(tǒng)計數(shù)據(jù)，以進行可追溯性和評估儀器的研究和實驗。他們可以洞察天平對某些任務(wù)的適用性。統(tǒng)計對于質(zhì)量控制實驗室特別有用，在質(zhì)量控制實驗室中，對過程的每個部分都進行仔細檢查。

科學(xué)家可以獲取原始數(shù)據(jù)并進行分析，以揭示模式，確認或拒絕假設(shè)，找到相關(guān)性等等。您可以使用統(tǒng)計信息來查找標準差和其他信息，這些信息將幫助您確定數(shù)據(jù)是否可用于研究。統(tǒng)計信息可以顯示錯誤，或者結(jié)果的標準偏差是否可以接受，并且設(shè)置公差可確保您擁有干凈的數(shù)據(jù)集。從醫(yī)學(xué)到質(zhì)量測試，統(tǒng)計信息可用于了解有關(guān)測試材料及其使用方法的更多信息。